國立臺灣科技大學研究發展處貴重儀器中心

掃描式電子顯微鏡技術推廣課程

Scanning Electron Microscopy (JEOL 7900)

時間：111年8月18日(四)下午1:30至3:30

地點：線上，連結網址將於完成報名後提供

主辦單位：國立臺灣科技大學研究發展處貴重儀器中心

協辦單位：捷東公司

報名方式：線上報名

報名截止：111年8月17日(三)下午5點

報名網址： https://docs.google.com/forms/d/e/1FAIpQLSc3C4IpcXTAZNCXg5xz2ahdR1DPwlCN0cq-8_oAaXwqMKF9fg/viewform?usp=sf_link

聯絡人： 徐培凱 D10804002@mail.ntust.edu.tw，電話:(02)2733-3141#7475

國立臺灣科技大學貴重儀器中心的場發射掃描式電子顯微鏡(JEOL 7900)，除影像模式外，搭配有Energy dispersive spectroscopy (EDS)、Wavelength dispersive spectroscopy (WDS)、以及Electron backscatter diffraction  (EBSD)等偵測器。結合不同偵測器，此套設備除了可觀察材料微觀結構，同時可進行材料微區的定性/定量組成及成分分佈分析，並瞭解結晶方位分布情形。為推廣各項分析技術，讓使用者可以充分發揮本儀器的功能，特舉辦此課程，歡迎報名參加。